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塞貝克系數(shù)電阻率測(cè)試儀的測(cè)試流程發(fā)布時(shí)間：2025-07-23

塞貝克系數(shù)電阻率測(cè)試儀的測(cè)試流程塞貝克系數(shù)電阻率測(cè)試儀用于測(cè)量材料在不同溫度梯度下的熱電勢(shì)（塞貝克系數(shù)）和電阻率。塞貝克效應(yīng)是熱電效應(yīng)的核心基礎(chǔ)之一，其本質(zhì)是溫度梯度轉(zhuǎn)化為電勢(shì)差的物理現(xiàn)象。塞貝克效應(yīng)是指當(dāng)兩種不同材料的導(dǎo)體或半導(dǎo)體連接成閉合回路，并在兩個(gè)接點(diǎn)處存在溫度差時(shí)，會(huì)在...

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2024
10-30

200V高壓放大器的技術(shù)特性與應(yīng)用實(shí)踐
200V高壓放大器的技術(shù)特性與應(yīng)用實(shí)踐一、概述HCAM-200V專為需要超出大多數(shù)波形、函數(shù)或脈沖發(fā)生器的標(biāo)準(zhǔn)電壓限制的高壓放大應(yīng)用而設(shè)計(jì)。HCAM-200V的最大輸出電壓為400Vp-p，標(biāo)配+50的固定增益。額定電流為100mA，輸出阻...
2024
10-29

影響固體擊穿電壓的因素分為哪些？
影響固體擊穿電壓的因素分為哪些？影響固體擊穿電壓的因素是多方面的，主要包括以下幾個(gè)方面：1.電壓作用時(shí)間短時(shí)間作用：在沖擊電壓作用下，主要發(fā)生電擊穿，此時(shí)擊穿電壓較高。長(zhǎng)時(shí)間作用：在周期性過(guò)電壓或交流實(shí)驗(yàn)電壓較長(zhǎng)時(shí)間作用下，熱擊穿占主導(dǎo)地位...
2024
10-28

表面電荷測(cè)量系統(tǒng)的試驗(yàn)原理
表面電荷測(cè)量系統(tǒng)的試驗(yàn)原理為了研究固-氣界面電荷的消散現(xiàn)象，首先須在試樣表面施加一定的初始電荷。本系統(tǒng)采用經(jīng)典的電暈充電電路對(duì)試樣進(jìn)行預(yù)充電，電極結(jié)構(gòu)如下圖，針電極施加正極或負(fù)極性高壓直流電壓，板電極接地，針電極針尖距離試樣表面10mm（可...
2024
10-25

200V高壓放大器的產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
200V高壓放大器的產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)HCAM-200V專為需要超出大多數(shù)波形、函數(shù)或脈沖發(fā)生器的標(biāo)準(zhǔn)電壓限制的高壓放大應(yīng)用而設(shè)計(jì)。HCAM-200V的最大輸出電壓為400Vp-p，標(biāo)配+50的固定增益。額定電流為100mA，輸出阻抗為0.2?。有獨(dú)...
2024
10-25

從微觀角度分析絕緣材料老化和擊穿原因--空間電荷測(cè)量裝置
從微觀角度分析絕緣材料老化和擊穿原因--空間電荷測(cè)量裝置使用聲學(xué)技術(shù)的空間電荷測(cè)量已成為研究固體材料介電性能的常用方法。脈沖電聲（PEA）方法已用于各種工業(yè)應(yīng)用。例如用于離子導(dǎo)電材料的，高壓絕緣材料，材料的內(nèi)部電荷、電場(chǎng)和電勢(shì)分布的研究和分...
2024
10-24

法拉第圓筒可根據(jù)被測(cè)物體大小及測(cè)試對(duì)象進(jìn)行定制
法拉第圓筒可根據(jù)被測(cè)物體大小及測(cè)試對(duì)象進(jìn)行定制一、基本概念法拉第圓筒是法拉第圓筒實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)裝置，即一個(gè)開(kāi)口的空心銅筒，后來(lái)也用于測(cè)量束團(tuán)電荷量和抑制中子發(fā)生器中的二次電子。二、主要用途1.法拉第圓筒實(shí)驗(yàn)：法拉第圓筒是法拉第圓筒實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)裝置...

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